応用情報技術者試験 午前

解説一覧 / 令和7年度 春期 問54

解説を読む ↓

54令和7年度 春期マネジメント系

あるシステム開発プロジェクトのシステムテストにおけるテスト密度及び欠陥密度の値は,図に示した領域①~領域④のうち,領域④の範囲内であった。品質管理基準に照らして評価すると,行うべき活動として最も適切なものはどれか。ここで,このプロジェクトの品質管理基準では,定量評価の基準として,表に従ってテスト密度及び欠陥密度の基準値を設定した上で,テスト密度は基準値の80%以上であること,かつ,欠陥密度は基準値の80%以上120%未満であることと定めている。

問題の図
図(問題冊子 p.28 より)— クリックで原寸

正解はウ

解説 本サイト独自(IPA公表のものではありません)

 テスト密度の下限は,基準値20の80%である16であり,領域④はその右側なので基準を満たす。一方,欠陥密度の下限は,基準値0.1の80%である0.08であり,領域④はその下側なので基準未満である。十分に欠陥を検出できていない懸念から,テストケースの妥当性を確認するウが適切である。

  •  領域④の欠陥密度を,0.08以上0.12未満の領域③と取り違えている。領域④は0.08未満なので,欠陥密度は基準を満たしていない。
  •  欠陥密度が高い側と低い側を逆に読んでいる。欠陥が多いのは0.12以上の領域②であり,0.08未満の領域④ではない。
  •  領域④が16の右側にあることを見落とし,領域①と取り違えている。テスト密度は基準値20の80%である16以上なので,不足していない。
この解説は間違っています

 ログインは不要です

この解説は,別のモデルによるレビューを受けています。

出典:令和7年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問54

自分で解いてから答え合わせをするなら 問題バンク — 解説は解答後に表示されます。